[논문]Reproducible Resistance Switching in NiO Films for ReRAM Applications

Park, Jae-Wan; Park, Jong-Wan; Yang, Min-Kyu; Jung, Kyu-Ho; Kim, Dal-Young; Lee, Jeon-Kook

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[국내논문] Reproducible Resistance Switching in NiO Films for ReRAM Applications
ReRAM 응용을 위한 NiO 박막의 저항 변화 특성 원문보기

한국재료학회 2005년도 춘계학술발표대회 및 제8회 신소재 심포지엄 논문개요집, 2005 May 26, 2005년, pp.67 - 67

Park, Jae-Wan (Thin Films Materials Research Center, KIST, Division of Materials Science and Engineering, Hanyang University) , Park, Jong-Wan (Division of Materials Science and Engineering, Hanyang University) , Yang, Min-Kyu (Thin Films Materials Research Center, KIST) , Jung, Kyu-Ho (Thin Films Materials Research Center, KIST) , Kim, Dal-Young (Thin Films Materials Research Center, KIST) , Lee, Jeon-Kook (Thin Films Materials Research Center, KIST)

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