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Shack-Hartmann 파면분석기와 점광원을 이용한 광학부품의 수차 측정
Wavefront Aberration Measurement with Shack-Hartmann Sensor and Point Source 원문보기

정보저장시스템학회 2005년도 추계학술대회 논문집, 2005 Oct. 01, 2005년, pp.160 - 161  

이진석 (연세대학교 기계공학과) ,  김학영 (연세대학교 기계공학과) ,  박영필 (연세대학교 기계공학과) ,  박노철 (정보저장기기 연구센터) ,  한재원 (연세대학교 기계공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Using a Shack-Hartmann sensor, we construct an optical testing system measuring the wavefront error of small optical components. The systematic error of the sensor is compensated with a reference plane-wave system that produces almost perfect plane waves. Several types of lenses are tested using a p...

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제안 방법

  • 다음으로 Fig. 2와 같이 레이저를 핀홀에 집광 시켜 점광원을 만들고 이를 이용해 렌즈의 수차를 측정하는 시스템을 제작하였다. 핀홀에서 회절되어 나오는 구면파는 측정렌즈를 통해 평행하게 되고 그 빛을 SH 파면분석기를 통해 분석하여 측정 렌즈의 수차를 알 수 있다.
  • 시스템의 오차가 보정된 후에 Fig. 2의 시스템을 이용하여 NA 0.65 인 현미경 대물렌즈와 NA 0.25 인 비구면 렌즈의 수차를 측정하였다. 이 결과를 Zygo 간섭계로 측정한 결과와 비교해 보았 을 때 (Table 1), rms 파면 수차는 약 1/500X 이내, p-v 파면 수차는 약 1/50X 이내의 측정값의 차이를 보였다.
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