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NTIS 바로가기한국전기전자재료학회 2005년도 하계학술대회 논문집 Vol.6, 2005 July 07, 2005년, pp.236 - 237
이경용 (원광대학교) , 양종석 (원광대학교) , 남종철 (대양소재) , 최용성 (원광대학교) , 박동하 (대양소재) , 박대희 (원광대학교)
To measure surface roughness and smoothness of semiconducting materials in power cable, we have investigated the formation and growth process of carbon black showed by changing the content of carbon black. The specimens were primarily kneaded in material samples of pellet form for 5 minutes on rolle...
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