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NTIS 바로가기한국전기전자재료학회 2005년도 추계학술대회 논문집 Vol.18, 2005 Nov. 10, 2005년, pp.145 - 146
박재준 (중부대학교 전기전자공학과) , 송일근 (한전전략연구원) , 이재봉 (한전전략연구원)
This study performs a simulation for an accumulation mechanism of contaminants, which were produced in an industrial belt of inland, on the surface of insulators. From the simulation, silicon insulators presented higher accumulation than that of EPDM(Ethylene Propylene Diene Terpolymer : EPDM) insul...
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