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NTIS 바로가기한국정밀공학회 2004년도 추계학술대회 논문집, 2004 Oct. 01, 2004년, pp.585 - 589
고국원 (선문대학교 제어 계측학과) , 이유진 (선문대학교) , 최병욱 (선문대학교 제어 계측학과) , 고경철 (선문대학교 기계공학과)
This paper deals with the algorithm development that inspects defects such as Lens Focus, Black Defect, Dim Defect, Color Defect, White Balance, and Line Defect caused by the process of Compact Camera Module (CCM). These days the demand of CCM goes on increasing in various types like PDA, a cellular...
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