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문제 정의
- 그동안 평판형 디스플레이에 쓰이는 대면적 도광판(LGP)의 제작과 렌티큘라 렌즈(lenticular lens)의 제작에 필요한 평판형 직가공 과정에서는 그 가공물 크기의 특성상 간접적으로 측정할 수밖에 없는 상황이었다. 본 연구에서는 숙련된 기술자의 경험과 판단에 의존하였던 기존의 금형표면측정방법과 주로 촉침식 표면측정기에 의존하여 형상 및 표면거칠기를 측정해온 어려움을 인식하고 보다 다루기 쉬우면서 신속하고 정확한 측정 자료를 산출하는 방법을 제시하였다. 수십 킬로그램의 하중을 가지는 금형의 표면상태를 검사하거나 대면적 미세패턴 가공표면에 잠재된 이상 유무를 신속하게 확인하는데 있어서 본 연구가 실제적인 도움이 되기를 기대한다.
- 한편 최근 비접촉측정기로서 높은 해상력과 다양한 측정프로그램을 내장한 현미경들이 출시되면서 이러한 문제들이 개선되고 있다. 이에 저자는 현재 도광판금형 직가공기로 절삭한 가공품들에 대해 핀홀 공초점 방식의 마이크로스코프를 장착한 대면적 검사용 표면 측정기를 이용하여 신속한 측정과 평가를 하여 그 정밀도를 비교 평가하고자 하였다.
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