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NTIS 바로가기한국신뢰성학회 2004년도 정기학술대회, 2004 July 01, 2004년, pp.129 - 137
이재국 (대우일렉트로닉스 품질신뢰성연구소) , 김진우 (대우일렉트로닉스 품질신뢰성연구소) , 신재철 (대우일렉트로닉스 품질신뢰성연구) , 김명수 (수원대학교 산업정보공학과)
This paper presents an accelerated life test for burnout of tungsten filament of incandescent lamp. From failure analyses of field samples, it is shown that their root causes are local heating or hot sports in the filament caused by tungsten evaporation and wire sag. Finite element analysis is perfo...
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