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NTIS 바로가기한국신뢰성학회 2004년도 정기학술대회, 2004 July 01, 2004년, pp.239 - 246
김종철 (아주대학교 산업정보시스템공학부) , 김광섭 (아주대학교 산업정보시스템공학부) , 차종범 (전자부품연구원)
Accelerated degradation test (ADT) can be a useful tool for assessing the reliability when few or even no failure are expected in an accelerated life test. In this paper, MLCC (Multilayer Ceramic Capacitors), a sort of passive components which have large capacitance(X7R -55
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