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NTIS 바로가기한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권2호, 2007 Aug. 27, 2007년, pp.1443 - 1446
Lee, Soon-Seok (Dept. of physics and advanced materials science, Sunmoon Univ.) , Hwang, Hak-Eun (R&D group, NeoView KOLON Co., LTD.) , Lim, Sung-Kyoo (Dept. of Electronics Engineering, Dankook Univ.)
The luminance and operating voltage were measured during OLED operation for the purpose of analyzing the efficiency and change of internal resistance. The half lifetime of OLED was affected by degradation of OLED due to heat generated by ambient temperature and self heating. The operating voltage co...
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