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NTIS 바로가기대한전기학회 2004년도 추계학술대회 논문집 전기물성,응용부문, 2004 Nov. 05, 2004년, pp.302 - 305
이세현 (한국조명기술연구소) , 신상욱 (한국조명기술연구소) , 조미령 (한국조명기술연구소) , 황명근 (한국조명기술연구소)
In this paper, We observed degradation characteristics of luminous flux for PLS. Because degradation tests can be a useful tool for assessing the reliability when few or even no failures are expected in a life tests, and we also use a temperature chamber to accelerate degradation of luminous flux fo...
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