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NTIS 바로가기대한안전경영과학회 2009년도 춘계학술대회, 2009 Apr. 25, 2009년, pp.489 - 499
유성규 (경희대학교 산업공학과) , 조재립 (경희대학교 공학대학) , 강보철 (전자부품연구원)
Through the process of HALT (Highly Accelerated Life Test) between 2003 to 2008, we are about to research on the design method for minimum test for all error modes that are classified and analyzed to obtain more margin able product....
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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HASS 시험의 목적은 무엇인가? | 우선 HASS 시험의 목적은 앞서 말한 것과 같이 개발 또는 양산중인 제품의 산포성 잠재 결함을 Screening 하기 위하여 실시한다. 시험 방법에 대한 설정 중 동작한계 확인시험 절차는 HALT 시험과 크게 다른바가 없으나 동작 한계를 기준으로 검출 구간을 설정, 스트레스 레벨을 정하는 기준은 신뢰성 Engineer의 판단에 따라 다양 하게 구성 할 수 있다. | |
HALT 시험과 HASS 시험만으로 신뢰성 평가를 대체하는 것으 ㅣ장점은 무엇인가? | 이것은 기본적으로 제품을 구성하는 부품 단위에서 이미 충분한 신뢰성 평가가 이루어 졌다는 가정 하에 개발단계에서는 HALT 시험을 통하여 발생하는 고장 현상에 대한 데이터를 수집, 이를 활용하여 개발 또는 양산중인 제품의 산포성 잠재 결함을 HASS 시험을 통하여 Screening 하는 시스템으로 변화 되어 가는 것이다. 물론 이렇게 얻어진 데이터를 모든 제품에 적용하기는 어렵지만 짧은 기간에 동일 전자부품 및 세트 제품에 적용하여 상대적으로 적은 비용과 시간을 투자하여 제품의 품질비용 (Quality cost)을 줄이는 결과를 만들 수 있다는 장점이 있다. | |
HALT 시험의 도입 배경은 무엇인가? | HALT 시험의 도입 배경은 짧은 시간 내에 Temperature step, Thermal cycle step, Vibration step, Combination cycle step Test에서 검출된 문제를 개선하고 그로인한 제품의 잠재적인 결함을 제거, 좀 더 높은 Margin의 제품을 만들기 위하였다고 볼 수 있다. |
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