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연합인증

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HILS를 이용한 적응광학계 파면보정 시스템 성능 평가
The Evaluation of the Correction Performance of the Wavefront Correction System using Hardware in the Loop Simulation 원문보기

한국광학회 2009년도 동계학술발표회 논문집, 2009 Feb. 12, 2009년, pp.469 - 470  

김지연 (한국과학기술원 기계공학과) ,  임찬경 (한국과학기술원 기계공학과) ,  엄태경 (한국과학기술원 기계공학과) ,  윤성기 (한국과학기술원 기계공학과)

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제안 방법

  • 3에서 보여주고 있다. Host PC와 타겟 시스템으로 구성된 실시간(Real-time) 시뮬레이션 환경을 구축하고, 여기서 대기파면 전산모사를 이용하여 실제 구현이어려운 임의의 왜곡파면을 발생시켰다. 타겟 시스템에서의 파면측정 알고리즘 및 파면보정 알고리즘을 통해 이렇게 발생된 왜곡파면의 보정을 위한 DM 구동기 입력 신호를 계산하여 실제 변형거울 하드웨어에 인가된다.
  • 타겟 시스템에서의 파면측정 알고리즘 및 파면보정 알고리즘을 통해 이렇게 발생된 왜곡파면의 보정을 위한 DM 구동기 입력 신호를 계산하여 실제 변형거울 하드웨어에 인가된다. 그리고 DM에 의해 보정되는 정도를 측정하기 위해서 실제 샥-하트만 센서에서 렌즐릿 배열을 통과한 빔을 CMOS 카메라로 센싱하여 실제 DM 표면의 보정 파면기울기 정보를 계산한다. 그리고 다시 대기파면 전산모사를 통해 왜곡파면을 생성하게 된다.
  • 파면측정은 렌즐릿 배열(Lenslet array)을 통해 CMOS 카메라로 이미지를 센싱하고 측정하는 샥-하트만 센서를 이용하였다. 시스템에 적용한 파면보정 알고리즘을 일반적으로 사용하는 지역(Zonal)제어와 모드(Modal)제어를 각각 구현하고 적용하여 비교 분석을 수행하였다. 이렇게 구성된 파면보정 시스템을 검증하기 위해서 실시간으로 변화하는 파면왜곡을 임의로 발생시켜 보정 실험을 수행하고 보정성능을 평가해야 하는데 이는 동일한 조건에서 반복 실험이 어렵다는 단점이 있다.
  • 그리고 다시 대기파면 전산모사를 통해 왜곡파면을 생성하게 된다. 이때 대기모사 입력파면에 대하여 실제 DM 하드웨어를 통한보정오차를 고려하며 실시간으로 이 과정을 반복함으로써 파면보정 시스템에 대하여 평가하는 연구를 수행 하였다.
  • 1과 같이 크게 파면측정 시스템(Wavefront sensor system), 파면보상 시스템(Wavefront correction system), 그리고 제어 시스템(Control system)의 세 가지 요소로 구성되어 있다. 파면측정 시스템이 파면의 왜곡정도를 측정하고, 제어 시스템에서 파면왜곡을 보정하기 위한 신호를 발생시키면, 파면보정 시스템이 측정 왜곡을 보정해준다.
  • 2는 내구성과 보정성능이 뛰어난 OKO사의 37채널 PZT 타입 변형거울을 이용하여 실험실에서 구성한 파면보정 시스템 하드웨어를 보여주고 있다. 파면측정은 렌즐릿 배열(Lenslet array)을 통해 CMOS 카메라로 이미지를 센싱하고 측정하는 샥-하트만 센서를 이용하였다. 시스템에 적용한 파면보정 알고리즘을 일반적으로 사용하는 지역(Zonal)제어와 모드(Modal)제어를 각각 구현하고 적용하여 비교 분석을 수행하였다.
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