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NTIS 바로가기한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display, 2009 Oct. 12, 2009년, pp.1383 - 1385
Son, Hyuk (Test Engineering 3Part, LCD Division, SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.) , Baek, Sung-Sik (AoneMecha CO., LTD.) , Oh, Hyeong-Geun (School of Information and Communication Engineering, SungKyunKwan University, Semiconductor) , Choi, Byoung-Deog
This paper suggests that testing method and equipment structure to detect potential failures of LCD cells. LCD Cell Aging Tester is the unique process to detect failures related with ASG circuits. This system consists of four components that is Aging chamber, work table, probe contact unit, and patt...
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