$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

전기화학적 식각을 이용한 다공성 실리콘 제조
Fabrication of Porous Silicon Using Electrochemical Etching 원문보기

한국전기전자재료학회 2004년도 춘계학술대회 논문집 반도체 재료 센서 박막재료 전자세라믹스, 2004 Apr. 24, 2004년, pp.121 - 124  

진동우 (동서대학교) ,  노상수 (대양전기공업(주) 부설기술연구소) ,  김규현 (동서대학교) ,  정귀상 (동서대학교)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The research on the porous silicon having low wafer stress during the oxidation process in IPOS(Isolation by Porous Oxidized Silicon) were carried out. Fine pores with less than 100A of diameter were found in the porous silicon which from p-type Si by electrochemical etching. In this study, it is po...

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 본 연구에서는 IPOS 공정에서 산화시 기판의 변형이 적은 56% 다공도를 갖는 다공성 실리콘의 제조 조건을 찾기 위한 연구를 수행하였다. p-type 실리콘을 이용하여 전기화학적 식각으로 형성한 다공성 실리콘의 경우 기공의 직경이 50nm 보다 작은 미세 기공들이 불규칙적으로 생성되었다.
  • 본 연구에서는 다공성 실리콘 층 위에 SiC 에피텍시얼 성장을 위한 IPOS 제조 공정에서 다공성 실리콘을 산화시킬 때 기판의 변형이 최소가 되는 56% 다공성도를 가지는 조건을 찾기 위해 HW 용액에서 전기화학적 식각을 이용하여 다공성 실리콘 형성조건에 따른 기공도 및 다공성 실리콘 층 두께 변화를 측정하였다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로