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NTIS 바로가기한국전기전자재료학회 2002년도 제4회 영호남학술대회 논문집, 2002 Aug. 24, 2002년, pp.69 - 72
이우선 (조선대학교 전기공학과) , 정찬문 (조선대학교 전기공학과) , 손동민 (조선대학교 전기공학과) , 서용진 (대불대학교 전기전자공학부) , 임장섭 (대불대학교 전기전자공학부)
The conventional thermal insulator and power transformer testing is widely used in surface aging measurement of outside insulator because those testing can carry out very short time in Lab testing. Also thermal testing is able to offer the standard judgement of relative degradation level of outside ...
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