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NTIS 바로가기Applied Sciences and Technology (IBCAST), 2012 9th International Bhurban Conference on, 2012 Jan, 2012년, pp.407 - 412
Mehdi, G. (Sch. of Electron. Inf. Eng., Beihang Univ., Beijing, China) , Jungang Miao (Sch. of Electron. Inf. Eng., Beihang Univ., Beijing, China)
Presence of Foreign object debris (FOD) at airport runways is an immense threat to flight safety operation. Such unwanted objects may cause potential damage to the aircraft during critical phases like take off and landing. Due to the miniaturized nature of FOD parts, a very high resolution sensor is...
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