최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2014 IEEE 21st International Symposium on the, 2014 June, 2014년, pp.114 - 117
Mendaros, R. G. (Worldwide Product Anal., Analog Devices Gen. Trias (ADGT), Cavite, Philippines) , Marcelo, M. T. (Worldwide Product Anal., Analog Devices Gen. Trias (ADGT), Cavite, Philippines)
One of the coating materials that is used to reduced electron charging effect during Scanning Electron Microscope (SEM) imaging is Platinum (Pt). Removing Pt coating for parts requiring further electrical testing or deprocessing has been a challenge in failure analysis. This paper discusses the esta...
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.