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NTIS 바로가기VLSI Test Symposium (VTS), 2018 IEEE 36th, 2018 Apr, 2018년, pp.1 - 1
Chakrabarty, Krishnendu (Duke University, USA) , Wang, Li-C. (University of California, Santa Barbara, USA) , Veda, Gaurav (A Siemens Business, USA) , Huang, Yu (A Siemens Business, USA (Organizer))
The special session focuses on using Machine Learning (ML) techniques on different applications in test and diagnosis. The first contribution discusses how to close the gap between working silicon and a working system by using ML. The second presentation then talks an alternative ML view and its var...
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