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문제 정의
- 이를 위해 기존 에는 패널의 상하좌우 위치에 대해 고정 값으로 설정 하는 방법, 상하좌우 위치에서의 패널 에지들의 평균값 등으로 영역을 설정하는 방법을 사용해 왔다. 하지만 이러한 방법들은 실제 검사 시 영상 내에서의 패널의 위치 변화, 패널 테두리에 불량이 결부될 경우 등 다양한 변화 상황에 대하여 적응적으로 대응하지 못하여 실제 패널 에지 보다 바깥쪽으로 검사 영역이 설정될 경우, 불량이 아닌데 불량으로 검출하는과 검출이 발생하고 패널 에지 보다 안쪽으로 검사 영역을 설정할 경우 불량을 검출하지 못하는 미 검출이 발생하는 문제점이 있어 본 논문에서는 실제 검사 상황에서 발생하는 여러 가지 변화에 대하여 오차를 최소화하는 패널의 외관 검사 영역을 설정하는 알고리즘을 제안하고자 한다.
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