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문제 정의
- 최근 저전력 저비용 임베디드 시스템의 사양이 향상됨에 따라 컴퓨터 비전 프로세싱을 어느 정도 수행할 수 있게 되었다. 그에 따라 이러한 임베디드 시스템의 활용 범위가 넓어졌으며 그 중 한 예시로 본 논문에서는 간이 PCB 검사기를 개발하기 위한 알고리즘을 제안한다. PCB 검사기는 본래 복수의 고품질 이미지를 다량으로 병렬로 분석해야 하기에 임베디드 환경에서의 접근이 어려운 분야였다.
- 그러나 특정 부품과 환경에서는 다룰 수 있는 부품과 조건이 존재한다. 본 논문에서는 PCB를 이루는 부품 중 특히 IC칩에 대한 미삽 검사 알고리즘을 개발하고 실험한다. PCB 베어보드와 IC 칩의 색상에 따라 다른 알고리즘이 사용되며 색상이 다를 경우 좀 더 사용자의 입력을 요구하는 알고리즘이 사용되어 진다.
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