초록 ▼

원료 물질의 표면에 근접한 위치에서 하전 입자를 방사하는 방사선 핵종의 분포가 얻어지도록 구성하므로써, 미세한 거리로 분리되어 집중된 방사선 핵종의 스포트를 고도의 공간 정밀도로 해상할 수 있게 한다.주밀폐 용기(130)내부에는 위치측정실과, 선택적인 두꺼운 흡수체(61)와, 다중전선 비례실(62)이 설치된다. 선택적인 흡수체(61)는 원료 물질로부터 방사를 중지시키기에 충분한 두께로 구성되며, 측정실은 우주선이나 자연 방사에만 반응된다. 검출기로부터 원료 물질(1)의 반대편에는 선택분리 밀폐용기(70)와, 두꺼운 흡수체(71)와,

원료 물질의 표면에 근접한 위치에서 하전 입자를 방사하는 방사선 핵종의 분포가 얻어지도록 구성하므로써, 미세한 거리로 분리되어 집중된 방사선 핵종의 스포트를 고도의 공간 정밀도로 해상할 수 있게 한다.주밀폐 용기(130)내부에는 위치측정실과, 선택적인 두꺼운 흡수체(61)와, 다중전선 비례실(62)이 설치된다. 선택적인 흡수체(61)는 원료 물질로부터 방사를 중지시키기에 충분한 두께로 구성되며, 측정실은 우주선이나 자연 방사에만 반응된다. 검출기로부터 원료 물질(1)의 반대편에는 선택분리 밀폐용기(70)와, 두꺼운 흡수체(71)와, 다중전선 비례실(72)이 설치되고, 이들은 다중전선 비례실(62)과 같은 방식으로 구성된다. 각각의 실온 자연방사에만 반응된다. 두개의 선택 계수기의 기능은 우주선과 다른 자연방사에 대한 거부신호를 제공하도록 구성된다. 거부 신호가 단시간내에 발생하는 검출기의 위치 측정실에서의 신호들은 무시해도 된다. 거부 계수기들은 자연방사없이 자연원점에서의 최대방사능 방사로부터의 약한 원료 분배를 기록하도록 형성된다.

대표청구항 ▼

플래너 원료 물질의 표면 부위에서, 하전입자를 방사하는 방사선 핵종의 2차원 분포를 측정하는 장치에 있어서, (a) 방사 하전 입자들이 충돌하여 동과할 때 그들의 흡수와 산란을 최소화할 수 있는 두께의 합성물로 형성되어 상기 원료 물질에 인접 배치되는 얇은 벽 또는 창을 갖는 가스 밀폐용기와; (b) 상기 원료물질의 평면에 근접하여 이 원료 물질과 평형하게 제1평면을 배치하도록 구성되고, 이 제1평면내의 두 좌표에서 이 제1평면을 통과하는 방사 하전 입자에 의해 발생되는 이온화 신호의 제1위치 측정을 하도록 배향되어 상기 밀폐용기의

플래너 원료 물질의 표면 부위에서, 하전입자를 방사하는 방사선 핵종의 2차원 분포를 측정하는 장치에 있어서, (a) 방사 하전 입자들이 충돌하여 동과할 때 그들의 흡수와 산란을 최소화할 수 있는 두께의 합성물로 형성되어 상기 원료 물질에 인접 배치되는 얇은 벽 또는 창을 갖는 가스 밀폐용기와; (b) 상기 원료물질의 평면에 근접하여 이 원료 물질과 평형하게 제1평면을 배치하도록 구성되고, 이 제1평면내의 두 좌표에서 이 제1평면을 통과하는 방사 하전 입자에 의해 발생되는 이온화 신호의 제1위치 측정을 하도록 배향되어 상기 밀폐용기의 냅에 설치되는 제1위치 측정실과; (c) 상기 밀폐창으로부터 변위되어 상기 원료 물질과 평행하게 제2평면을 배치하도록 구성되고, 이 제2평면내의 두 좌표에서 이 제2평면을 통과하는 방사하전입자에 의해 발생되는 이온화 신호의 제2위치 측정을 하도록 배향되어 상기 밀폐용기의 내부 설치되는 제2위치 측정실과; (d) 상기 제1 및 제2위치 측정실내에서 소정시간 동안에 발생하는 이온화 신호들의 측정위치들을 비교하고, 추정 방사 원점을 확인할 수 있도록, 상기 측정 위치들을 통과하는 직선이 상기 원료 물질의 평면과 교차하는 지점의 좌표들을 계산하며, 또한 상기 측정 위치들에서의 차이가 상기 제2 및 제2평면에 대한 최대 추사각의 추정경로와 관련된 제한 값들을 초과하는지를 결정하는 회로 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 측정 장치.