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[한국특허] 감광액의 파티클 제거방법 및 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/027
출원번호 10-1995-0039899 (1995-11-06)
공개번호 10-1997-0030224 (1997-06-26)
DOI http://doi.org/10.8080/1019950039899
발명자 / 주소
  • 이숙 / 서울특별시서초구양재동**-* ***호
  • 김학 / 서울특별시송파구잠실*동주공아파트***동***호
출원인 / 주소
  • 삼성전자주식회사 / 경기도 수원시 영통구 매탄동 ***
심사진행상태 취하(심사미청구)
법적상태 취하

초록

본 발명은 반도체장치의 제조에 사용되는 감광액의 파티클제거방법 및 장치에 관한 것으로서, 그 방법은 상기 감광액을 수용하는 보관용 용기내에서 상기 감광액을 유동상태로 유지되도록 하고 그리고 그 장치는 감광액을 수용하는 보관용 용기(10)와; 상기 용기(10)내에 설치된 자석교반용 바(14)와; 상기 용기(10)의 둘레에 설치되어 있고 그리고 상기 자석교반용(14)를 회전시키는 자석교반기(18)를 포함한다. 본 발명의 방법 및 장치에 따르면, 감광액이 용기내에서 장시간동안 보관하여도 그 감광액내에 있는 미세파티클의 주위에 화합물들이

대표청구항

반도체장치의 제조에 사용되는 감광액의 파티클제거방법에 있어서, 상기 감광액을 수용하는 보관용 용기내에서 상기 감광액을 유동상태로 유지되도록 하는 것을 특징으로 하는 감광액의 파티클제거방법.

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