초록 ▼

본 발명은 반도체 칩 패키지가 탑재된 메모리 모듈의 전기적인 특성을 테스트시 그 테스트를 하기 위한 공정으로 운반할 때 사용하는 모듈용 트레이에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 상기 인쇄회로기판에 반도체 칩 패키지가 실장되어 있는 메모리 모듈을 모듈 트레이에 탑재할 경우 메모리 모듈이 좌우로 유동하거나 반도체 칩 패키지가 트레이에 접촉하는 것을 방지하기 위한 모듈 지지부를 구비하는 모듈용 트레이에 관한 것이다.본 발명은, 메모리 모듈을 테스트하기 위해 탑재하는 모듈용 트레이에 있어서, 상기 메모리 모듈에 다수의 칸막이가 형성되어 있고

본 발명은 반도체 칩 패키지가 탑재된 메모리 모듈의 전기적인 특성을 테스트시 그 테스트를 하기 위한 공정으로 운반할 때 사용하는 모듈용 트레이에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 상기 인쇄회로기판에 반도체 칩 패키지가 실장되어 있는 메모리 모듈을 모듈 트레이에 탑재할 경우 메모리 모듈이 좌우로 유동하거나 반도체 칩 패키지가 트레이에 접촉하는 것을 방지하기 위한 모듈 지지부를 구비하는 모듈용 트레이에 관한 것이다.본 발명은, 메모리 모듈을 테스트하기 위해 탑재하는 모듈용 트레이에 있어서, 상기 메모리 모듈에 다수의 칸막이가 형성되어 있고, 상기 칸막이의 사이에 삽입홈이 형성되고, 그 삽입홈에 메모리 모듈을 삽재시 모듈의 접촉을 방지하기 위한 모듈 지지부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 모듈 지지부를 구비한 모듈용 트레이를 제공한다.본 발명의 구조에 의하면, 트레이에 메모리 모듈을 탑재시 반도체 칩 패키지가 트레이에 접촉함으로서 발생하는 파손을 방지하는 효과가 있고, 메모리 모듈의 좌우 유동을 방지함과 동시에 설비효율 및 품질이 개선되며, 그에 따라 생산성이 향상되는 효과가 있다.

대표청구항

메모리 모듈을 테스트하기 위해 탑재하는 모듈용 트레이에 있어서, 상기 메모리 모듈에 다수의 칸막이가 형성되어 있고, 상기 칸막이의 사이에 삽입홈이 형성되고, 상기 삽입홈에 메모리 모듈을 삽재시 반도체 칩 패키지와 트레이의 접촉을 방지하기 위한 모듈 지지부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 모듈 지지부를 구비한 모듈용 트레이.

메모리 모듈을 테스트하기 위해 탑재하는 모듈용 트레이에 있어서, 상기 메모리 모듈에 다수의 칸막이가 형성되어 있고, 상기 칸막이의 사이에 삽입홈이 형성되고, 상기 삽입홈에 메모리 모듈을 삽재시 반도체 칩 패키지와 트레이의 접촉을 방지하기 위한 모듈 지지부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 모듈 지지부를 구비한 모듈용 트레이.