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전압 측정에 의한 누설전류검사 방법 및 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-031/02
출원번호 10-1997-0066929 (1997-12-09)
공개번호 10-1999-0048279 (1999-07-05)
DOI http://doi.org/10.8080/1019970066929
발명자 / 주소
  • 강경석 / 경기도 용인시 양지면 양지리 ***번지 *호 장미빌라 *동 ***호
출원인 / 주소
  • 강경석 / 경기 용인시 양지면 양지리 ***번지 장미원룸 *동 ***호
대리인 / 주소
  • 조의제 (JO, Eui Je)
  • 서울 강남구 역삼동 ***번지 혜천빌딩 ****호(탑국제특허법률사무소)
심사청구여부 있음 (1997-12-09)
심사진행상태 거절결정(일반)
법적상태 거절

초록

개시된 내용은 반도체칩 및 전자전기회로의 누설전류 검사방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명의 전압측정에 의한 누설전류 검사방법 및 장치는, 직렬연결된 저항성분의 비율로 결정된 연결단자의 전압을, 누설전류를 검사하고자 하는 해당 핀(단자)에 인가하고, 연결부의 전압을 측정하여 저항성분비로 정해진 전압과 비교하여 누설전류를 파악하는, 누설전류 검사방법 및 장치이다. 따라서, 본 발명은 반도체칩이나 복잡한 전자전기적인 회로의 누설전류를 정확하게 검사하므로써, 검사의 효율성을 향상시키는 효과를 제공한다.

대표청구항

누설전류 검사방법에 있어서,(1) 직렬연결된 2개의 저항성분에 의한 비율로 연결부의 전압을 결정하는 단계;(2) 검사할 반도체칩 및 전자전기회로의 해당단자에 연결하는 단계; 및,(3) 저항성분 연결부에서 측정된 전압과, 저항성분비로 결정된 전압을 비교하여 누설전류를 검사하는 단계를 포함하는, 전압측정에 의한 누설전류 검사방법.

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