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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2000-0006608 (2000-02-12) |
공개번호 | 10-2001-0083382 (2001-09-01) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020000006608 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2005-01-11) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
본 발명은 전자파 내성(EMS) 측정 및 불요 전자파 (EMI)측정, 안테나 교정등에서 필요한 표준 전자파 (평면파)를 발생시키는 시설인 전자파 내성 및 감도 측정용 표준전자파 발생장치에 관한 것이다. 본 발명에서는 사면체 형상의 외부도체 내부에 판 형상을 갖는 두개의 내부 도체를 설치하고, 각 내부 도체를 외부 단자와 연결하여 서로 반대 위상 급전을 통해, 균일도를 상승시켰으며, 높은 균일도로 인해, 사용 주파수 대역을 확장시킬수 있도록 사면체 모양으로 구현하여, 폭이 좁고 높이가 큰 구조로도 주파수에 제한을 받지 않으면서 원하는
사면체모양으로 구성되는 외부도체(6)의 내부에 판형상을 갖는 두 개의 내 부도체(4,5)가 상하 혹은 좌우 평행으로 위치하면서 꼭지점 방향에는 동축 코넥터(10,11)로 급전되는 구조를 갖추고 있고, 반대편으로는 분포저항판 (12,13)과 흡수체(17,18)로 전자파를 종단하는 구조를 갖는 특징으로 하는 전자파내성 및 감도 측정용 표준전자파 발생 장치
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