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연합인증

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플로팅 바디효과를 제거한 반도체 메모리소자 및 그제조방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-027/108
출원번호 10-2001-0009604 (2001-02-26)
공개번호 10-2001-0112829 (2001-12-22)
등록번호 10-0652370-0000 (2006-11-24)
DOI http://doi.org/10.8080/1020010009604
발명자 / 주소
  • 김창현 / 경기도성남시분당구수내동양지마을한양아파트***동***호
  • 김경호 / 경기도수원시권선구금곡동***번지엘지빌리지***동***호
  • 양원석 / 경기도용인시수지읍동천리***-*풍림*차아파트***동***호
출원인 / 주소
  • 삼성전자주식회사 / 경기도 수원시 영통구 매탄동 ***
대리인 / 주소
  • 리앤목특허법인 (Y.P.LEE, MOCK&PARTNERS)
  • 서울 서초구 서초동****-*번지 고려빌딩(리앤목 특허법인)
심사청구여부 있음 (2005-07-28)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

외부에서 유입되는 잡음에 대하여 면역성이 강화된 플로팅 바디효과를 제거한 반도체 메모리소자 및 그 제조방법이 개시된다. 본 발명의 메모리소자는 반도체기판, 상기 반도체기판의 상부표면과 인접되도록 매몰되며 평행하게 배열된 복수개의 비트라인, 상기 반도체기판상에 상기 비트라인들과 절연되며 교차하도록 형성된 복수개의 워드라인 및 상기 비트라인 및 워드라인이 교차하는 단위 메모리 셀영역에 형성되어 있으며, 상기 워드라인의 측벽 일부를 따라 게이트절연막을 개재하면서 상기 비트라인상에 수직으로 제1 소오스/드레인영역, 채널영역 및 제2 소오스

대표청구항

반도체기판;상기 반도체기판의 상부표면과 인접되도록 매몰되며 평행하게 배열된 복수개의 비트라인;상기 반도체기판상에 상기 비트라인들과 절연되며 교차하도록 형성된 복수개의 워드라인; 및상기 비트라인 및 워드라인이 교차하는 단위 메모리 셀영역에 형성되어 있으며, 상기 워드라인의 측벽 일부를 따라 게이트절연막을 개재하면서 상기 비트라인상에 수직으로 제1 소오스/드레인영역, 채널영역 및 제2 소오스/드레인영역을 포함하는 복수개의 수직형 억세스 트랜지스터를 구비하며, 상기 각 억세스 트랜지스터의 채널영역을 포함하는 각 바디영역이 일체화되도록 서

발명자의 다른 특허 :

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 매립비트라인을 구비한 반도체 장치 및 그 제조방법 | 김수영
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