$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

반도체 제조 장치의 수명 진단 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • H01L-021/02
출원번호 10-2002-0052266 (2002-08-31)
공개번호 10-2003-0019267 (2003-03-06)
등록번호 10-0489850-0000 (2005-05-06)
DOI http://doi.org/10.8080/1020020052266
발명자 / 주소
  • 사마따슈이찌 / 일본가나가와껭요꼬하마시이소고꾸신스기따쪼*가부시끼가이샤도시바요꼬하마퍼실러티어드미니스트레이션센터내
  • 우시꾸유끼히로 / 일본가나가와껭요꼬하마시이소고꾸신스기따쪼*가부시끼가이샤도시바요꼬하마퍼실러티어드미니스트레이션센터내
  • 이시이겐 / 일본가나가와껭요꼬하마시이소고꾸신스기따쪼*가부시끼가이샤도시바요꼬하마퍼실러티어드미니스트레이션센터내
  • 나까오다까시 / 일본가나가와껭요꼬하마시이소고꾸신스기따쪼*가부시끼가이샤도시바요꼬하마퍼실러티어드미니스트레이션센터내
출원인 / 주소
  • 가부시끼가이샤 도시바 / 일본국 도꾜도 미나또꾸 시바우라 *쪼메 *방 *고
대리인 / 주소
  • 장수길; 구영창 (CHANG, Soo Kil)
  • 서울 종로구 내자동 세양빌딩 (김.장법률사무소); 서울 종로구 신문로*가 ***번지 흥국생명빌딩*층(김.장법률사무소)
심사청구여부 있음 (2002-08-31)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은, 반도체 제조에 관련되는 프로세스 조건의 변동, 전원 변동이나 기종 차이에 영향받지 않는 반도체 제조 장치의 수명 진단 방법을 제공하는 것으로, 반도체 제조 장치의 열화가 없을 때의 특징량(特徵量)의 기준 시계열 데이터를 측정하고(단계 S11), 기준 시계열 데이터로부터 기준 자기 공분산 함수를 구하며(단계 S12), 이 기준 자기 공분산 함수로부터 프로세스 조건의 변동 및 전원에 기인하는 기준 변동을 추출하서, 그 기준 변동의 주기를 구하고(단계 S13), 반도체 제조 장치의 평가 대상이 되는 시퀀스에 있어서, 특징량의

대표청구항

반도체 제조 장치의 열화가 없을 때의 특징량(特徵量)의 기준 시계열 데이터를 측정하는 단계와, 상기 기준 시계열 데이터로부터 기준 자기 공분산 함수를 구하는 단계와, 상기 기준 자기 공분산 함수로부터 프로세스 조건의 변동 및 전원에 기인하는 기준 변동을 추출하고, 그 기준 변동의 주기를 구하는 단계와, 반도체 제조 장치의 평가 대상이 되는 시퀀스에서, 상기 특징량의 진단용 시계열 데이터를 측정하는 단계와, 상기 진단용 시계열 데이터로부터 진단용 자기 공분산 함수를 구하는 단계와, 상기 기준 변동의 주기보다 짧은 주기의 성분을 이용하

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. [일본] PREVENTIVE MAINTENANCE SYSTEM FOR HIGH-SPEED CENTRIFUGAL PUMP DEALING WITH HIGH-TEMPERATURE AND HIGH-PRESSURE FLUID | UEYAMA TOSHIHARU
  2. [한국] 플로우팅 SOI-MOSFET의 수명 예측 방법 | 마에다 시게노부
  3. [한국] 유기 전기 발광 소자의 수명 측정 장치 | 임우빈, 이재경, 김영규
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로