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연합인증

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광학 시트 및 그 최적화 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G02F-001/1335
출원번호 10-2002-0088362 (2002-12-31)
공개번호 10-2004-0062049 (2004-07-07)
등록번호 10-0463872-0000 (2004-12-20)
DOI http://doi.org/10.8080/1020020088362
발명자 / 주소
  • 이돈규 / 경상북도구미시진평동주공아파트***동****호
  • 송기연 / 경기도평택시지산동미주*차아파트***동***호
  • 이순호 / 경상남도통영시봉평동***-*번지
  • 김장량 / 부산광역시금정구남산동*-*번지**동*반
출원인 / 주소
  • 엘지디스플레이 주식회사 / 서울 영등포구 여의도동 **번지
대리인 / 주소
  • 허용록 (HAW, Yong Noke)
  • 서울 강남구 역삼동***-** 현죽빌딩 *층(선영특허법률사무소)
심사청구여부 있음 (2002-12-31)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명에 따른 광학 시트의 최적화 방법은, 여러 가지 광확산 시트의 투과율, 헤이즈(HAZE), 두께 데이터 및 그 데이터들에 대응되는 광확산 시트의 휘도 데이터를 이용하여 통계 표본을 추출하는 단계와; 추출된 통계 표본에 대한 회귀 모형을 수립하는 단계와; 수립된 회귀 모형에 대한 오차항(잔차)을 최소화시키는 회귀계수를 산출하고, 그 산출된 회귀계수를 이용하여 회귀식을 도출하는 단계; 및 도출된 회귀식을 이용하여, 광확산 시트의 투과율, 헤이즈 및 두께의 변화에 의한 광확산 시트의 휘도를 예측하는 단계; 를 포함한다.여기서, 회

대표청구항

여러 가지 광확산 시트의 투과율, 헤이즈(haze), 두께 데이터 및 그 데이터들에 대응되는 광확산 시트의 휘도 데이터를 이용하여 통계 표본을 추출하는 단계와;상기 추출된 통계 표본에 대한 회귀 모형을 수립하는 단계와;상기 수립된 회귀 모형에 대한 오차항(잔차)을 최소화시키는 회귀계수를 산출하고, 그 산출된 회귀계수를 이용하여 회귀식을 도출하는 단계; 및상기 도출된 회귀식을 이용하여, 광확산 시트의 투과율, 헤이즈 및 두께의 변화에 의한 광확산 시트의 휘도를 예측하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 시트의 최적화 방법.

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