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연합인증

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[한국특허] 유전자 발현의 시간적 분석을 위한 은닉격자모형(SOLL) 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • C12Q-001/68
출원번호 10-2003-0031692 (2003-05-19)
공개번호 10-2004-0099646 (2004-12-02)
등록번호 10-0566560-0000 (2006-03-24)
DOI http://doi.org/10.8080/1020030031692
발명자 / 주소
  • 장병탁 / 서울 서초구 방배동 ****-* 경남아파트 *-***
  • 양진산 / 서울특별시노원구상계동주공아파트****-***
출원인 / 주소
  • 재단법인서울대학교산학협력재단 / 서울특별시 관악구 봉천*동 산*의 *번지
대리인 / 주소
  • 임재룡 (IM, Jae Ryong)
  • 서울 서초구 서초동 ****-*번지 대림빌딩 *층(세현국제특허법률사무소)
심사청구여부 있음 (2003-05-19)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은 둘 이상의 유전자의 시계열적 발현 데이터로부터, 더욱 바람직하게는 DNA 마이크로어레이를 통해 수득된 둘 이상의 유전자의 시계열적 발현 데이터로부터, 특정 유전자가 다른 특정 유전자를 활성화시키거나 억제시키는 상관관계 등의 유전자 사이의 상관관계(CORRELATION)를 분석하는 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 방법은 SOM(SELF-ORGANIZATION MAPS)의 위상적 분석력 및 GTM의 확률적 은닉변수 모형의 재생 특성(GENERATIVE PROPERTY)을 결합한 새로운 확률적 은닉격자 모형(SELF-OR

대표청구항

둘 이상의 유전자의 시계열적 발현 데이터로부터, 유전자 사이의 상관관계 (CORRELATION)를 분석하는 방법에 있어서, 하기 단계를 포함하는 은닉 격자 모형의 학습을 포함하는 방법에 의해서 이루어지며:1) SOM (SELF-ORGANIZING MAP)을 이용하여 Y(T)=(Y_{1},Y_{2},Y_{3},Y_{4}) 의 고차원의 데이터를 2 차원 상의 노드 X_I 로 사상하고, 사상된 격자점인 원형 데이터 Z 중에서 다른 입력 데이터에 가장 가까운 점을 위너 (WINNER)로 선택하고, 그에 따라 원형 데이터 (PROTO

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