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연합인증

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리드프레임 검사용 조명기구 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • H01L-021/66
출원번호 10-2004-0024011 (2004-04-08)
공개번호 10-2005-0098593 (2005-10-12)
등록번호 10-1070889-0000 (2011-09-29)
DOI http://doi.org/10.8080/1020040024011
발명자 / 주소
  • 지제연 / 경상남도마산시회원구회원*동***-**번지
  • 우석하 / 경상남도창원시남양동*번지롯데아파트*동****호
출원인 / 주소
  • 삼성테크윈 주식회사 / 경상남도 창원시 성산구 성주동 **번지
대리인 / 주소
  • 리앤목특허법인; 이해영
심사청구여부 있음 (2009-03-27)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 리드프레임의 표면불량을 소재무늬과 구별하여 판단할 수 있는 리드프레임 검사용 조명기구를 제공하는 것을 목적으로 하며, 이 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 리드프레임 표면의 불량 여부를 검사하기 위하여 CCD 카메라를 사용한 촬영시에, 상기 리드프레임의 촬영구역을 조명하는 리드프레임 검사용 조명기구로서, CCD 카메라와 평행하게 조명광이 입사되는 동축조명장치, 및 CCD 카메라와 경사져서 조명광이 입사되는 적어도 두 개 이상의 측광조명장치를 구비한 리드프레임 검사용 조명기구를 제공한다.

대표청구항

리드프레임 표면의 불량 여부를 검사하기 위한 CCD 카메라를 사용한 촬영시에 상기 리드프레임의 촬영구역을 조명하는 리드프레임 검사용 조명기구로서, 상기 CCD 카메라와 동일한 축 상에서 조명광이 방사되는 동축조명장치; 및 상기 CCD 카메라와 다른 축 상에서 조명광이 방사되는 적어도 두 개 이상의 측광조명장치;를 포함하며, 상기 동축조명장치는:동축 광원(光源); 상기 동축 광원으로부터 방사된 조명광을 균일하게 확산시키는 동축 디퓨져;상기 동축 디퓨져를 통과한 조명광을 집광하는 동축 집광렌즈; 및 상기 동축 집광렌즈를 통과한 조명광을

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. [일본] SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE | MATSUMOTO MASARU
  2. [일본] SURFACE QUALITY INSPECTING APPARATUS AND METHOD | TIMO PIIRONEN, DETLEF PAUL, PERTTI KONTIO

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 라인 스캔용 카메라 조립체 | 손영곤, 채영준, 김태진, 김주형
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