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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2005-0005536 (2005-01-20) |
공개번호 | 10-2006-0084740 (2006-07-25) |
등록번호 | 10-0695137-0000 (2007-03-08) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020050005536 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2005-01-20) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 시료를 용매에 용해하는 단계, 상기 용해된 시료에 자외선을 조사하여 이온으로 분리하는 단계 및 상기 분리된 이온의 종류 및 농도를 이온 선택 전극으로 측정하는 단계를 구비하는 분석 방법을 개시한다. 본 발명에 따른 분석 방법은 광분해 반응으로 발생한 이온을 정전압법으로 측정함으로써 전처리 또는 고가의 분석 장비 없이 짧은 시간 내에 시료의 정성 및 정량 분석이 가능하여 대량의 시료를 신속하고 저렴한 비용으로 분석할 수 있으므로 다양한 분석 환경에 유용하게 사용할 수 있다.
시료를 용매에 용해하는 단계; 상기 용해된 시료에 자외선을 조사하여 이온으로 분리하는 단계; 및 상기 분리된 이온의 종류 및 농도를 이온 선택 전극으로 측정하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 분석 방법.
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