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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2005-0080127 (2005-08-30) |
공개번호 | 10-2007-0028637 (2007-03-13) |
등록번호 | 10-1147120-0000 (2012-05-10) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020050080127 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2010-07-29) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 LCD 검사 장비 및 검사 방법에 관한 것으로, 특히 LCD 패널의 불량 검출을 위해 동작되는 백라이트 유닛의 잦은 점멸로 인해 상기 백라이트 유닛의 수명이 단축됨을 방지할 수 있도록 한 새로운 구조의 LCD 검사 장비와 그를 이용한 검사 방법을 제공하고자 한 것이다.이를 위한 본 발명의 LCD 검사 장비는, 전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널로 광원을 방사하는 백라이트 유닛; 상기 LCD
전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블;상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛;상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널로 광원을 방사하는 백라이트 유닛;상기 LCD 패널의 전방측에 구비되어 광원을 편광하는 제1편광판;상기 LCD 패널과 상기 백라이트 유닛 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제2편광판; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 표면으로 광을 방사하는 조명 유닛; 그리고,상기 백라이트 유닛으로부터 상기 LCD 패널로 방사되는 광원을 선택적으로 차단하는 셧터 유닛을 구비하며, 상
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