초록 ▼

본 발명은 LCD 검사 장비 및 검사 방법에 관한 것으로, 특히 LCD 패널의 불량 검출을 위해 동작되는 백라이트 유닛의 잦은 점멸로 인해 상기 백라이트 유닛의 수명이 단축됨을 방지할 수 있도록 한 새로운 구조의 LCD 검사 장비와 그를 이용한 검사 방법을 제공하고자 한 것이다.이를 위한 본 발명의 LCD 검사 장비는, 전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널로 광원을 방사하는 백라이트 유닛; 상기 LCD

본 발명은 LCD 검사 장비 및 검사 방법에 관한 것으로, 특히 LCD 패널의 불량 검출을 위해 동작되는 백라이트 유닛의 잦은 점멸로 인해 상기 백라이트 유닛의 수명이 단축됨을 방지할 수 있도록 한 새로운 구조의 LCD 검사 장비와 그를 이용한 검사 방법을 제공하고자 한 것이다.이를 위한 본 발명의 LCD 검사 장비는, 전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널로 광원을 방사하는 백라이트 유닛; 상기 LCD 패널의 전방측에 구비되어 광원을 편광하는 제1편광판; 상기 LCD 패널과 상기 백라이트 유닛 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제2편광판; 그리고, 상기 백라이트 유닛으로부터 상기 LCD 패널로 방사되는 광원을 선택적으로 차단하는 셧터 유닛:이 포함되어 구성된 것을 특징으로 한다.이와 같은 본 발명에 따르면, 백라이트 유닛이 항상 점등된 상태를 이룰 수 있되, 상기 백라이트 유닛으로부터 방사되는 광원이 LCD 패널로 조사됨은 선택적으로 차단될 수 있기 때문에 상기 백라이트 유닛의 수명이 단축됨이 방지된다.

대표청구항 ▼

전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블;상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛;상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널로 광원을 방사하는 백라이트 유닛;상기 LCD 패널의 전방측에 구비되어 광원을 편광하는 제1편광판;상기 LCD 패널과 상기 백라이트 유닛 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제2편광판; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 표면으로 광을 방사하는 조명 유닛; 그리고,상기 백라이트 유닛으로부터 상기 LCD 패널로 방사되는 광원을 선택적으로 차단하는 셧터 유닛을 구비하며, 상

전면으로 LCD 패널이 안착되는 워크 테이블;상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 패드와 전기적으로 접속되는 프로브 유닛;상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널로 광원을 방사하는 백라이트 유닛;상기 LCD 패널의 전방측에 구비되어 광원을 편광하는 제1편광판;상기 LCD 패널과 상기 백라이트 유닛 사이에 구비되어 광원을 편광하는 제2편광판; 상기 워크 테이블에 안착된 LCD 패널의 표면으로 광을 방사하는 조명 유닛; 그리고,상기 백라이트 유닛으로부터 상기 LCD 패널로 방사되는 광원을 선택적으로 차단하는 셧터 유닛을 구비하며, 상기 LCD 패널에 영상이 구현되지 않도록 제어하며 검사를 진행하는 과정에서는 상기 조명 유닛의 조명만 상기 LCD 패널로 광을 방사하도록 하거나, 상기 백라이트 유닛의 광원만 상기 LCD 패널로 방사하도록 하거나, 또는 상기 조명 유닛의 조명 및 상기 백라이트 유닛의 광원 모두를 상기 LCD 패널로 방사하도록 하고, 상기 LCD 패널에 각 패턴별 영상이 구현되도록 제어하면서 검사를 진행하는 과정에서는 상기 조명 유닛으로 전원을 제공하지 않음과 동시에 상기 셧터 유닛은 그의 차단막이 백라이트 유닛과 LCD 패널 사이를 개방하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장비.