초록 ▼

본 발명은 이진 탐색을 이용한 위상 계산 장치에 관한 것으로, 이 장치는 I 성분 데이터의 절대치와 Q 성분 데이터의 절대치 중 큰 값을 수평성분데이터로, 작은 값을 수직성분데이터로 결정하고, 상기 I,Q 성분 데이터가 제m(m=1,...,8) 위상영역- 상기 제m 위상영역은 위상 범위 (m-1)π/4 내지 mπ/4에 해당됨- 중 어느 위상영역에 속하는지를 나타내는 위상영역 정보를 검출하는 분면 선처리부; 상기 수평성분데이터 및 상기 수직성분데이터에 대응되는 위상대표값 x을 검출하는 위상대표값검출부; 및 상기 검출된 위상영역 정보

본 발명은 이진 탐색을 이용한 위상 계산 장치에 관한 것으로, 이 장치는 I 성분 데이터의 절대치와 Q 성분 데이터의 절대치 중 큰 값을 수평성분데이터로, 작은 값을 수직성분데이터로 결정하고, 상기 I,Q 성분 데이터가 제m(m=1,...,8) 위상영역- 상기 제m 위상영역은 위상 범위 (m-1)π/4 내지 mπ/4에 해당됨- 중 어느 위상영역에 속하는지를 나타내는 위상영역 정보를 검출하는 분면 선처리부; 상기 수평성분데이터 및 상기 수직성분데이터에 대응되는 위상대표값 x을 검출하는 위상대표값검출부; 및 상기 검출된 위상영역 정보 및 상기 검출된 위상대표값 x을 기초로 상기 I,Q 성분 데이터의 위상 값을 산출하는 분면 후처리부를 포함한다. 본 발명에 따르면, 적은 메모리 및 낮은 계산 복잡도를 가지며, I, Q 성분 데이터의 비트 수에 구애됨이 없이 정확한 위상 계산을 수행할 수 있다.

대표청구항 ▼

I 성분 데이터의 절대치와 Q 성분 데이터의 절대치 중 큰 값을 수평성분데이터로, 작은 값을 수직성분데이터로 결정하고, 상기 I,Q 성분 데이터가 제M(M=1,...,8) 위상영역- 상기 제M 위상영역은 위상 범위 (M-1)Π/4 내지 MΠ/4에 해당됨- 중 어느 위상영역에 속하는지를 나타내는 위상영역 정보를 검출하는 분면 선처리부;상기 수평성분데이터 및 상기 수직성분데이터에 대응되는 위상대표값 X을 검출하는 위상대표값검출부; 및상기 검출된 위상영역 정보 및 상기 검출된 위상대표값 X을 기초로 상기 I,Q 성분 데이터의 위상 값을

I 성분 데이터의 절대치와 Q 성분 데이터의 절대치 중 큰 값을 수평성분데이터로, 작은 값을 수직성분데이터로 결정하고, 상기 I,Q 성분 데이터가 제M(M=1,...,8) 위상영역- 상기 제M 위상영역은 위상 범위 (M-1)Π/4 내지 MΠ/4에 해당됨- 중 어느 위상영역에 속하는지를 나타내는 위상영역 정보를 검출하는 분면 선처리부;상기 수평성분데이터 및 상기 수직성분데이터에 대응되는 위상대표값 X을 검출하는 위상대표값검출부; 및상기 검출된 위상영역 정보 및 상기 검출된 위상대표값 X을 기초로 상기 I,Q 성분 데이터의 위상 값을 산출하는 분면 후처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 이진 탐색을 이용한 위상 계산 장치.제1항에 있어서, 상기 위상대표값검출부는,상기 제1 위상영역이 분할되어 형성되는 2N 개의 부분영역 각각의 위상을 대표하는 위상대표값을 저장하고, 상기 저장된 위상대표값 중 입력된 주소(AN-1AN-2…A0)에 대응되는 위상대표값을 출력하는 위상대표값저장부;상기 수직성분데이터가 제N(N=1,...,N) 기준값보다 크면 AN-N의 값을 제1 이진값으로, 상기 수직성분데이터가 상기 제N(N=1,...,N) 기준값보다 작거나 같으면 AN-N의 값을 제2 이진값으로 결정하여, 상기 주소를 생성하는 주소생성부; 및상기 제1 기준값으로서, 상기 수평성분데이터의 1/2을 상기 주소생성부에 제공하고, 상기 제N(N=2,...,N) 기준값으로서, AN-N이 제1 이진값이면 제N (N=1,...,N-1) 기준값의 3/2를, AN-N이 제2 이진값이면 제N (N=1,...,N-1) 기준값의 1/2을 상기 주소생성부에 제공하는 기준값생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 이진 탐색을 이용한 위상 계산 장치.제1항에 있어서, 상기 분면 선처리부는,상기 I, Q 성분 데이터의 사분면 정보 및 상기 I성분 데이터의 절대치와 상기 Q 성분 데이터의 절대치의 비교 결과를 상기 위상영역 정보로 이용하는 것을 특징으로 하는 이진 탐색을 이용한 위상 계산 장치.제1항에 있어서, 상기 분면 후처리부는,상기 위상영역 정보를 기초로, 상기 I,Q 성분 데이터가 제1 위상영역, 제2 위상영역, 제3 위상영역, 제4 위상영역, 제5 위상영역, 제6 위상영역, 제7 위상영역 및 제8 위상영역에 속하는 경우, 각각 X, Π/2-X, Π/2+X, Π-X, -Π+X, -Π/2-X, -Π/2+X 및 -X를 상기 위상값으로 결정하는 것을 특징으로 하는 이진 탐색을 이용한 위상 계산 장치.