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특허 상세정보

피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및그 방법

국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판) G06F-017/00    G06F-019/00    G06F-009/44   
출원번호 10-2006-0110742 (2006-11-09)
등록번호 10-0810687-0000 (2008-02-28)
DOI http://doi.org/10.8080/1020060110742
발명자 / 주소
  • 정의섭 / 서울 동작구 상도*동 ***-** 대영테크빌 ***호
  • 서진이 / 서울 도봉구 창*동 삼성아파트 ***동 ***호
  • 권오진 / 서울 성북구 종암*동 삼성래미안아파트 ***-****
  • 노경란 / 서울 강북구 미아*동 ***-* 현대성우아파트 ***-****
  • 김완종 / 서울 성동구 하왕십리동 금호베스트빌 ***-***
  • 김태중 / 대전 서구 월평동 *** 누리아파트 ***동 ****호
출원인 / 주소
대리인 / 주소
  • 특허법인화우 (YOON YANG KIM SHIN &YU)
  • 서울 서초구 서초동****-* 남강빌딩 **층
심사청구여부 있음 (2006-11-09)
초록

본 발명은 피인용 정보를 이용한 기술활용주기의 모형 매핑 시스템 및 그 방법을 제공하기 위한 것으로, 대상기술분야 별로 인용정보를 추출하는 인용정보 추출부와; 상기 인용정보 추출부에서 추출된 인용정보의 피인용수를 체크하는 피인용수 체크부와; 상기 피인용수 체크부에서 체크된 피인용수를 이용하여 인용활용지수를 계산하는 인용활용지수 계산부와; 상기 인용활용지수 계산부에서 계산된 인용활용지수의 적용범위를 선정하는 적용범위 선정부와; 상기 적용범위 선정부에서 선정된 각 인용활용지수 적용범위별로 모형을 매핑시키는 모형 매핑부;;를 포함하여 구성함으로서, 피인용 정보를 이용하여 기술활용주기의 모형을 가시화함으로써 ...