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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2006-0126306 (2006-12-12) |
공개번호 | 10-2008-0054122 (2008-06-17) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020060126306 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사진행상태 | 취하(심사미청구) |
법적상태 | 취하 |
본 발명은 측정 대상물의 회전관성을 측정하기 위한 공간을 축소하며 보다 정확한 회전 관성의 측정을 위한 회전관성 측정장치에 관한 것이다.이를 위한 본 발명은, 측정 공간의 상측에서 고정되어 연장된 지지선과, 상기 지지선의 선단에 회전 중심이 고정되는 상부 플레이트와, 상부 플레이트에 다수의 지지봉을 매개로 일정 거리 이격된 하방향으로 장착되며, 회전 관성을 측정하고자 하는 측정 대상물이 안착되는 하부 플레이트와, 상부 플레이트 또는 상기 하부 플레이트의 회전 주기를 측정하는 옵티컬 센서부재를 제공한다.
측정 공간의 상측에서 고정되어 연장된 지지선; 상기 지지선의 선단에 회전 중심이 고정되는 상부 플레이트; 상기 상부 플레이트에 다수의 지지봉을 매개로 일정 거리 이격된 하방향으로 장착되며, 회전 관성을 측정하고자 하는 측정 대상물이 안착되는 하부 플레이트; 및 상기 상부 플레이트 또는 상기 하부 플레이트의 회전 주기를 측정하는 옵티컬 센서부재;를 구비하는 것을 특징으로 하는 회전관성 측정장치.
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