초록 ▼

본 발명은 미지의 혼합물에 대하여 측정한 X선 회절(XRD) 스펙트럼으로부터 독립성분분석(ICA)을 이용하여 독립성분을 분리하고, 상기 각 독립성분에 대해 비음최소제곱법(non-negative least squares)을 적용하여 미지 혼합물을 이루는 구성성분의 혼합비율을 예측하는 미지 혼합물의 성분비율 예측방법에 관한 것이다.본 발명은 n개의 미지 혼합물 시료에 X선을 조사하여 상기 시료로부터 회절되어 온 X선의 회절강도 데이터(X)를 획득하는 제1단계; 상기 획득된 X선 회절강도 데이터(X)로부터 패스트 독립성분분석(FastIC

본 발명은 미지의 혼합물에 대하여 측정한 X선 회절(XRD) 스펙트럼으로부터 독립성분분석(ICA)을 이용하여 독립성분을 분리하고, 상기 각 독립성분에 대해 비음최소제곱법(non-negative least squares)을 적용하여 미지 혼합물을 이루는 구성성분의 혼합비율을 예측하는 미지 혼합물의 성분비율 예측방법에 관한 것이다.본 발명은 n개의 미지 혼합물 시료에 X선을 조사하여 상기 시료로부터 회절되어 온 X선의 회절강도 데이터(X)를 획득하는 제1단계; 상기 획득된 X선 회절강도 데이터(X)로부터 패스트 독립성분분석(FastICA)을 이용하여 상기 미지 혼합물 시료로부터 독립성분(S)을 추출하는 제2단계; 상기 추출된 독립성분(S)에 따라 얻어지는 혼합물 계수(A)를 비음최소제곱법(non-negative least squares)을 적용하여 산정하는 제3단계; j번째 미지 혼합물 시료에 대한 X선 회절강도 데이터 행렬(Xj) 및 상기 산정된 혼합물 계수(A)를 이용하여 상기 j번째 미지 혼합물 시료의 독립성분(Sj)을 구하는 제4단계; 및 상기 j번째 미지 혼합물 시료의 독립성분(Sj)으로부터 그 성분비율을 예측하는 제5단계를 포함한다.

대표청구항 ▼

N개의 미지 혼합물 시료에 X선을 조사하여 상기 시료로부터 회절되어 온 X선의 회절강도 데이터(X)를 획득하는 제1단계;상기 획득된 X선 회절강도 데이터(X)로부터 독립성분분석(ICA)을 이용하여 상기 미지 혼합물 시료로부터 독립성분(S)을 추출하는 제2단계;상기 추출된 독립성분(S)에 따라 얻어지는 혼합물 계수(A)를 비음최소제곱법(NON-NEGATIVE LEAST SQUARES)을 적용하여 산정하는 제3단계;상기 N개 중 J번째 미지 혼합물 시료에 대한 X선 회절강도 데이터 행렬(XJ) 및 상기 산정된 혼합물 계수(A)를 이용하

N개의 미지 혼합물 시료에 X선을 조사하여 상기 시료로부터 회절되어 온 X선의 회절강도 데이터(X)를 획득하는 제1단계;상기 획득된 X선 회절강도 데이터(X)로부터 독립성분분석(ICA)을 이용하여 상기 미지 혼합물 시료로부터 독립성분(S)을 추출하는 제2단계;상기 추출된 독립성분(S)에 따라 얻어지는 혼합물 계수(A)를 비음최소제곱법(NON-NEGATIVE LEAST SQUARES)을 적용하여 산정하는 제3단계;상기 N개 중 J번째 미지 혼합물 시료에 대한 X선 회절강도 데이터 행렬(XJ) 및 상기 산정된 혼합물 계수(A)를 이용하여 상기 J번째 미지 혼합물 시료의 독립성분(SJ)을 구하는 제4단계; 및상기 J번째 미지 혼합물 시료의 독립성분(SJ)의 성분비율을 예측하는 제5단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 미지 혼합물의 성분비율 예측방법.