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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2007-0013990 (2007-02-09) |
공개번호 | 10-2008-0074625 (2008-08-13) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020070013990 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2007-02-09) |
심사진행상태 | 원결정유지(심사전치) |
법적상태 | 거절 |
본 발명은 마이크로/나노 스케일의 인장시험에 사용되는 VIT시스템에 관한 것으로, 더 상세하게는 인장시험시 길이방향으로의 변형률과 폭방향으로의 변형률을 동시에 실시간으로 측정하여 이 값에 의해 푸아송비를 즉시 계산하도록 하는 변위/변형률 측정을 위한 VIT시스템 및 이를 이용한 변위/변형률과 푸아송비의 실시간 측정방법에 관한 것이다.본 발명의 VIT시스템 및 측정방법은 다수의 마커가 표시된 마이크로/나노 시편을 구동기인 PTZ엑츄에이터 와 하중계인 로드셀 사이에 고정시키고, 상기 시편에 인장력을 가한 후 시편에 표시된 마커간의 거리
다수의 마커가 표시된 마이크로/나노 시편을 구동기인 PTZ엑츄에이터 와 하중계인 로드셀 사이에 고정시키고, 상기 시편에 인장력을 가한 후 시편에 표시된 마커간의 거리를 측정하여 변형률을 측정하는 광학계와 CCD카메라로 구성된 VIT시스템에 있어서,상기 시스템(10)은 구동기(20)와 하중계(30)가 설치된 베드에 XY축으로 조정가능하게 장착된 주축대(50)와, 상기 주축대의 일측에 Z축 방향으로 이동가능하게 장착된 이동대(60)로 구성되는데;상기 이동대(60)는 하부에 줌렌즈(61)와 튜브렌즈(62)를 순차적으로 설치하여 줌렌즈로부
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