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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2007-0084351 (2007-08-22) |
공개번호 | 10-2009-0019997 (2009-02-26) |
등록번호 | 10-0933560-0000 (2009-12-15) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020070084351 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2007-08-22) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
나노팁(nanotips)의 형성과 형상조절은 전계효과 디스플레이(field emission display, FED)의 전계방출 소자로 최근 큰 관심을 받고 있으며, 원자력 현미경(atomic force microscope, AFM)을 포함한 주사탐침현미경(Scanning Probe MicroScope, SPM)과 같은 측정분야의 핵심원천기술로 많은 연구가 진행되었다. 본 발명은 패턴화된 실리콘 나노팁의 제작방법에 관한 것이다. 더욱 상세하게는 본 발명은 심도 반응성 이온 식각(deep reactive ion etching, DRIE
실리콘기판의 일면에 감광성막을 형성하기 위하여 감광성막을 도포하는 단계와,자외선을 상기 감광성막에 선택적으로 노광시켜서 상기 감광성막을 일정한 형상으로 성형하는 단계와, 증착가스와 식각가스를 사용하여 상기 실리콘기판의 일면에 나노팁과 나노벽을 형성하기 위한 제1차심도반응성 이온 식각단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴화된 실리콘 나노팁 제작방법.제1항에 있어서,잔여 감광성막을 제거하기 위한 감광성막 제거단계와,증착가스와 식각가스를 사용하여 상기 실리콘기판의 일면에 나노팁과 나노벽을 형성하기 위한 제2차심도반응성 이온 식각단계를
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