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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2008-0021995 (2008-03-10) |
공개번호 | 10-2009-0096913 (2009-09-15) |
등록번호 | 10-0962668-0000 (2010-06-03) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020080021995 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2008-03-10) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 레이더 신호를 주파수 형태 또는 펄스 반복 주기(PRI) 형태에 따라 분석하고 샘플링 과정 및 미분 과정을 통하여 상기 레이더 신호의 패턴을 해석함으로써 적아 식별(IFF) 능력을 향상시키는 레이더 신호의 패턴을 분석하는 장치 및 그 방법, 그리고 전자전 시스템에 관한 것이다. 본 발명은 수신된 레이더 신호의 펄스 상세 정보를 근거로 펄스열을 추출하는 추출부; 추출된 펄스열로부터 레이더 신호의 주파수 패턴 형태 또는 PRI 패턴 형태를 분석하기 위한 샘플링부; 및 샘플링 데이터를 미분하여 레이더 신호의 파형을 해석하는 레
수신된 레이더 신호의 패턴을 분석하는 장치에 있어서,상기 수신된 레이더 신호에서 펄스열을 추출하는 추출부;상기 추출된 펄스열을 이용하여 상기 수신된 레이더 신호의 주파수 패턴 형태 또는 PRI(Pulse Repetition Interval) 패턴 형태에 따른 샘플링 데이터를 생성하는 샘플링부; 및상기 생성된 샘플링 데이터를 미분하여 상기 레이더 신호의 파형을 해석하는 레이더 신호 패턴 분석부를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 신호 패턴 분석 장치.
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