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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2009-0009465 (2009-02-05) |
공개번호 | 10-2010-0090148 (2010-08-13) |
등록번호 | 10-1077043-0000 (2011-10-20) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020090009465 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2009-02-05) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 광-적외선 열화상 비파괴 검사용 참조물질 및 이를 이용한 비파괴 검사 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 광-적외선 열화상 비파괴검사 장비를 최대 성능이 발휘되는 배열 및 검사 조건으로 최적화시킬 수 있고, 최적화한 상태에서 실제 피검체에 대한 결함을 용이하게 검사할 수 있도록 한 광-적외선 열화상 비파괴 검사용 참조물질 및 이를 이용한 비파괴 검사 방법에 관한 것이다.이를 위해, 본 발명은 소정 면적을 갖는 금속판의 일면에 다수의 결함부를 등간격 또는 불균일 간격으로 형성하되, 상기 결함부들은 비파과검사 장치에 의하
소정 면적을 갖는 스테인레스 스틸 금속판의 일면에 다수의 결함부를 등간격 또는 불균일 간격으로 형성하되, 비파괴검사 장치에 의하여 검출 가능한 최소직경 Φ4mm의 결함부와, 최대직경 Φ16mm의 결함부와, 최소직경과 최대직경 사이 범위의 Φ8mm 및 Φ12mm의 결함부가 등간격 또는 불균일 간격으로 형성되고, 상기 Φ16mm의 결함부, Φ12mm의 결함부, Φ8mm의 결함부, Φ4mm의 결함부를 각각 2mm, 3mm, 4mm, 5mm의 측정깊이로 다양화시켜 형성시킨 것을 특징으로 하는 광-적외선 열화상 비파괴 검사용 참조물질.
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