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[한국특허] 더블 패턴 형성 방법
DOUBLE PATTERNING PROCESS
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IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G03F-007/004
출원번호 10-2009-0011935 (2009-02-13)
공개번호 10-2009-0088334 (2009-08-19)
등록번호 10-1367455-0000 (2014-02-19)
우선권정보 일본(JP) JP-P-2008-032668 (2008-02-14)
DOI http://doi.org/10.8080/1020090011935
발명자 / 주소
  • 다께무라, 가쯔야 / 일본 니가따껭 죠에쯔시 구비끼꾸 니시후꾸시마 **-* 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 신기노 자이료 기쥬쯔 겡뀨쇼 내
  • 하따께야마, 준 / 일본 니가따껭 죠에쯔시 구비끼꾸 니시후꾸시마 **-* 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 신기노 자이료 기쥬쯔 겡뀨쇼 내
  • 니시, 쯔네히로 / 일본 니가따껭 죠에쯔시 구비끼꾸 니시후꾸시마 **-* 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 신기노 자이료 기쥬쯔 겡뀨쇼 내
  • 가따야마, 가즈히로 / 일본 니가따껭 죠에쯔시 구비끼꾸 니시후꾸시마 **-* 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 신기노 자이료 기쥬쯔 겡뀨쇼 내
  • 이시하라, 도시노부 / 일본 니가따껭 죠에쯔시 구비끼꾸 니시후꾸시마 **-* 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 신기노 자이료 기쥬쯔 겡뀨쇼 내
출원인 / 주소
  • 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 / 일본 도꾜도 지요다꾸 오떼마치 *쪼메 *방 *고
대리인 / 주소
  • 위혜숙; 장수길
심사청구여부 있음 (2012-01-17)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은 피가공 기판 상에 화학 증폭 포지티브형 레지스트 조성물을 도포하고, 레지스트막을 형성하는 공정, 상기 막에 제1 포지티브형 패턴을 얻는 공정, 또한 상기 포지티브형 패턴에, 반전막 형성용 조성물에 사용되는 유기 용제에 대한 내성을 부여하는 공정, 제2 화학 증폭 포지티브형 레지스트 재료로 반전막을 형성하고, 상기 막에 제2 포지티브형 패턴을 얻는 공정을 포함하고, 또한 제2 포지티브형 레지스트 패턴을 얻는 알칼리 현상액 공정에 있어서, 상기 알칼리성 현상액에 가용으로 반전된 제1 포지티브형 패턴이 제2 패턴을 얻는 공정

대표청구항

피가공 기판 상에, 산에 의해 이탈되는 산 불안정기에 의해 보호된 알칼리 가용성기를 갖는 구조를 갖는 반복 단위를 갖는 수지, 광산 발생제 및 유기 용제를 함유하는 제1 화학 증폭 포지티브형 레지스트막 형성용 조성물을 도포하고, 예비 베이킹에 의해 불필요한 용제를 제거하여 레지스트막을 형성하는 공정, 상기 레지스트막에 고에너지선을 패턴 조사하고, 노광 후 가열에 의해 노광에 의해 발생한 산을 산 불안정기에 작용시켜, 노광부의 수지의 산 불안정기에 이탈 반응을 행하게 하여 알칼리 가용으로 만든 후, 알칼리성 현상액으로 현상하여 제1

이 특허를 인용한 특허 (2) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. [한국] 패턴 형성 방법 | 고바야시, 도모히로, 하따께야마, 준, 나가따, 다께시
  2. [한국] 패턴 형성 방법 | 김은성, 김경선, 남재우, 신철호, 이시용

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