다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기
| 국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
|---|---|
| 국제특허분류(IPC9판) |
|
| 출원번호 | 10-2009-0108559 (2009-11-11) |
| 공개번호 | 10-2011-0051792 (2011-05-18) |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020090108559 |
| 발명자 / 주소 | |
| 출원인 / 주소 |
|
| 대리인 / 주소 |
|
| 심사청구여부 | 있음 (2009-11-11) |
| 심사진행상태 | 거절결정(일반) |
| 법적상태 | 거절 |
본 발명의 적어도 일 실시예에 따른 접촉열전도재 특성 측정장치 및 방법은, 제1 열속 바의 일단에 결합된 방열판과 제2 열속 바의 일단 사이에 마련된 접촉열전도재를 흐르는 열류값을 계산하고, 계산된 열류값을 고려하여 접촉열전도재의 상하면 각각의 온도를 계산하고, 그 계산된 열류값과 그 계산된 온도를 고려하여 접촉열전도재의 열저항을 계산함으로써, 방열판과 접촉하고 있는 접촉열전도재의 열저항을 정확히 측정할 수 있다.
제1 열속 바(heat flux bar)의 일단에 결합된 방열판과 제2 열속 바의 일단 사이에 마련된 접촉열전도재를 관통하는 열류값을 계산하는 열류값 계산부;상기 계산된 열류값을 고려하여 상기 접촉열전도재의 상하면 각각의 온도를 계산하는 온도 계산부; 및상기 계산된 열류값과 상기 계산된 온도를 고려하여 상기 접촉열전도재의 열저항을 계산하는 열저항 계산부를 포함하는 접촉열전도재 특성 측정장치.
Copyright KISTI. All Rights Reserved.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.