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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2010-0002945 (2010-01-13) |
공개번호 | 10-2011-0082973 (2011-07-20) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020100002945 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2010-01-13) |
심사진행상태 | 포기(등록결정전 포기서제출) |
법적상태 | 포기 |
본 발명은 벼의 두 가지 자포니카(Japonica) 재배종간의 여교잡으로 생산된 이입계통(introgression line population)을 이용하여 작성된, 벼의 도열병 저항성에 관여하는 양적형질 유전자좌(QTL)가 포함된 고밀도 유전자 지도 및 상기 유전자 지도를 이용하여 벼의 도열병 저항성 관련 QTL을 분석하는 방법에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 벼 도열병 저항성 유전자 Pi45(t)을 포함하는 이입계통에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 상기 유전자 지도에 포함된 SSR 마커를 이용하여 Pi45(t)를 동정하는 방법
자성친 및 반복친으로서 일품벼 (Ilpumbyeo)와 공여친으로서 모로베레칸 (Moroberekan)간의 여교잡으로 생산된 이입계통(introgression line population)을 대상으로 양적형질 유전자 분석을 실시하여 작성된 벼의 도열병 저항성에 관여하는 양적형질 유전자좌(QTL)를 포함하는 것을 특징으로 하는 도 1에 도시된 벼의 고밀도 양적형질 유전자 지도.
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