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[한국특허] 마스크리스 노광 장치와 마스크리스 노광에서 오버레이를 위한 정렬 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • H01L-021/027
출원번호 10-2010-0042384 (2010-05-06)
등록번호 10-1059811-0000 (2011-08-22)
DOI http://doi.org/10.8080/1020100042384
발명자 / 주소
  • 안성민 / 서울 양천구 목*동 목동롯데캐슬위너아파트 ***동 ****호
  • 최호석 / 경기 수원시 팔달구 인계동 ***번지 인계래미안 노블클래스 ***동 ***호
  • 장상돈 / 경기도 안산시 상록구 사동 ****번지 대우*차 푸르지오 ***동 ***호
출원인 / 주소
  • 삼성전자주식회사 / 경기도 수원시 영통구 매탄동 ***
대리인 / 주소
  • 특허법인 세림
심사청구여부 있음 (2010-05-06)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

마스크리스 노광 공정에서 가상의 마스크를 이용하여 레이어별로 오버레이하는 방법을 통해 마스크리스 적층 노광을 수행할 수 있는 정렬 방법을 제안한다.마스크리스 노광에서 기존 마스크 노광의 마스크와 같은 역할을 하는 가상의 마스크라는 개념을 도입하고, 기존 마스크 노광의 정렬 마크와 같은 역할을 하는 가상의 타켓 마크라는 개념을 도입하여 레이어별로 오버레이를 수행함으로써 마스크리스 노광에서도 적층 노광을 할 수 있다.

대표청구항

기판을 이동시키는 스테이지;상기 기판에 적층되는 레이어;상기 레이어에 패턴을 노광하기 위해 노광 빔을 빔 스팟 어레이 형태로 전사하여 가상의 마스크를 생성하는 광 변조소자;상기 레이어에 새겨진 정렬 마크의 위치를 계측하는 정렬부;상기 계측된 정렬 마크의 위치를 이용하여 상기 가상의 마스크에 존재하는 타겟 마크의 위치를 계산하고, 상기 계산된 타겟 마크의 위치를 이용하여 상기 가상의 마스크와 상기 기판의 정렬을 수행하는 제어부를 포함하는 마스크리스 노광 장치.

발명자의 다른 특허 :

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