초록

본 발명은 방사선 검출 장치에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 제한된 공간에서도 하나의 검출 장치를 이용하여 방사선을 측정하여 감마선과 중성자를 동시에 구분하여 측정할 수 있는 검출 장치를 제공하는데 있다.이를 위해 본 발명에 따른 방사건 검출 장치는, 동시에 감마선과 중성자를 분리하여 측정할 수 있는 방사선 검출부 및 상기 방사선 검출부에 전압을 인가하고 측정된 감마선과 중성자를 분리하여 표시하는 신호 처리 회로를 포함하는 것을 특징으로 한다.

대표청구항 ▼

동시에 감마선과 중성자를 분리하여 측정할 수 있는 방사선 검출부(100); 및상기 방사선 검출부(100)에 전압을 인가하고 측정된 감마선과 중성자를 분리하여 표시하는 신호 처리 회로(200);를 포함하고,상기 방사선 검출부(100)는,내부에 기체가 충진되어 방사선 검출부(100)에 입사된 감마선이 검출되는 외부 챔버(110);상기 외부 챔버(110) 내부에 배치되며 중성자와 반응하는 중성자 검출 반응 박막(120);상기 중성자 검출 반응 박막(120)의 상면과 하면에 각각 접합되어 상기 중성자 검출 반응 박막(120)에 전압을 인가

동시에 감마선과 중성자를 분리하여 측정할 수 있는 방사선 검출부(100); 및상기 방사선 검출부(100)에 전압을 인가하고 측정된 감마선과 중성자를 분리하여 표시하는 신호 처리 회로(200);를 포함하고,상기 방사선 검출부(100)는,내부에 기체가 충진되어 방사선 검출부(100)에 입사된 감마선이 검출되는 외부 챔버(110);상기 외부 챔버(110) 내부에 배치되며 중성자와 반응하는 중성자 검출 반응 박막(120);상기 중성자 검출 반응 박막(120)의 상면과 하면에 각각 접합되어 상기 중성자 검출 반응 박막(120)에 전압을 인가하는 한 쌍의 제1 중성자 검출 전극(130);상기 제1 중성자 검출 전극(130)에 접합되어 입사되는 방사선을 측정하는 한 쌍의 반도체 검출부(140); 및상기 반도체 검출부(140)에 접합되어 상기 반도체 검출부(140)에 전압을 인가하는 한 쌍의 제2 중성자 검출 전극(150);을 포함하며,상기 신호 처리 회로(200)는,상기 외부 챔버(110)와 전기적으로 연결되어 상기 외부 챔버(110)에 전압을 인가하는 제1 전압 인가부(210);검출된 감마선 신호를 증폭하는 감마선 신호 증폭부(220);상기 감마선 신호 증폭부(220)에서 증폭된 감마선 신호를 방사선량으로 변환하는 감마선 신호 선량 전환부(230);상기 제2 중성자 검출 전극(150)과 전기적으로 연결되어 전압을 인가하는 제2 전압 인가부(240);상기 제1 중성자 검출 전극(130)과 전기적으로 연결되어 상기 중성자 검출 반응 박막(120)으로부터 검출된 중성자 신호를 증폭하는 중성자 신호 증폭부(250);상기 중성자 신호 증폭부(250)에서 증폭된 중성자 신호를 방사선량으로 변환하는 중성자 신호 선량 전환부(260);상기 제1 중성자 검출 전극(150)과 전기적으로 연결되어 전압을 인가하는 제3 전압 인가부(270); 및상기 감마선 신호 선량 전환부(230) 및 중성자 신호 선량 전환부(260)와 연결되어 상기 방사선 검출부(100)에서 검출된 감마선 선량 및 중성자 선량을 구분하여 표시하는 방사선 표시부(280);를 포함하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치.