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연합인증

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[한국특허] 열변형 정밀 계측장치
THERMAL DEFORMATION MEASURING DEVICE
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IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • G01B-011/16
  • G01N-025/02
출원번호 10-2010-0118784 (2010-11-26)
등록번호 10-1147140-0000 (2012-05-10)
DOI http://doi.org/10.8080/1020100118784
발명자 / 주소
  • 임종민 / 대전광역시 유성구 과학로 ***-** (어은동)
  • 김홍배 / 대전광역시 유성구 과학로 ***-** (어은동)
  • 은희광 / 대전광역시 유성구 어은로 **, ***동 ***호 (어은동, 한빛아파트)
  • 문남진 / 대전광역시 서구 문정로 ***, 한양공작아파트 *동 ***호 (탄방동)
  • 이동우 / 대전광역시 서구 청사로 *, ***동 ***호 (월평동, 하나로아파트)
  • 문귀원 / 대전광역시 유성구 도룡동 로얄밸리 ***호
출원인 / 주소
  • 한국항공우주연구원 / 대전광역시 유성구 과학로 ***-** (어은동)
대리인 / 주소
  • 특허법인다나
심사청구여부 있음 (2010-11-26)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은 계측 시편이 설치되는 테스트 베드와, 상기 테스트 베드 상에 설치되는 베이스와, 상기 베이스의 일측에 배치되어 상기 계측 시편을 지지하며 스케일을 구비하는 지지체와, 상기 베이스에 설치되며 상기 스케일로의 발광 및 수광을 통해 상기 스케일의 이동량을 검출하는 리더 헤드, 및 상기 지지체와 상기 베이스를 연결하며 상기 계측 시편의 열 변형에 의해 상기 지지체가 이동하도록 휨 변형되는 플렉서블 시트를 포함하는 열변형 계측장치를 개시한다.

대표청구항

계측 시편이 설치되는 테스트 베드;상기 테스트 베드 상에 설치되는 베이스;상기 베이스의 일측에 배치되어 상기 계측 시편을 지지하며, 스케일을 구비하는 지지체;상기 베이스에 설치되며, 상기 스케일로의 발광 및 수광을 통해 상기 스케일의 이동량을 검출하는 리더 헤드; 및상기 지지체와 상기 베이스를 연결하며, 상기 계측 시편의 열 변형에 의해 상기 지지체가 이동하도록 휨 변형되는 플렉서블 시트를 포함하는 열변형 계측장치.

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