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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2010-0127688 (2010-12-14) |
공개번호 | 10-2012-0066377 (2012-06-22) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020100127688 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2010-12-14) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
본 발명은 단립을 측정함으로써 개체별 품질 데이터를 취득하여 보다 정밀한 품질자료를 획득할 수 있으면서도, 외형특성, 내부성분 및 백도 등의 품질측정을 동시에 측정하여 측정시간 을 단축시킬 수 있는 쌀 종합품질 측정장치에 관한 것으로, 베이스; 상기 베이스 위에 배치되는 샘플평면이동기구; 상기 샘플평면이동기구 상의 기준플레이트에 배치되는 백라이트부; 상기 백라이트부 상측에 배치되는 샘플트레이; 상기 베이스에 수직하게 설치되는 메인컬럼; 상기 메인컬럼에 수평으로 이동이 가능하게 설치되는 제1수직빔 및 제2수직빔; 상기 제1수직빔에 설
베이스;상기 베이스 위에 배치되는 샘플평면이동기구;상기 샘플평면이동기구 상의 기준플레이트에 배치되는 백라이트부;상기 백라이트부 상측에 배치되는 샘플트레이;상기 베이스에 수직하게 설치되는 메인컬럼;상기 메인컬럼에 수평으로 이동이 가능하게 설치되는 제1수직빔 및 제2수직빔;상기 제1수직빔에 설치돼서 상기 샘플트레이의 상측에서 상기 샘플트레이를 향해 빛을 조사하는 프론트라이트부;상기 프론트라이트부의 상측에 배치되고, 상기 제1수직빔에 대하여 수직으로 이동가능하게 고정되는 제1수평암에 고정되는 카메라; 및상기 제2수직빔에 대하여 수직으로
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