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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2010-0137757 (2010-12-29) | |
공개번호 | 10-2012-0075870 (2012-07-09) | |
등록번호 | 10-1228577-0000 (2013-01-25) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020100137757 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2010-12-29) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 빈의 변위 법칙을 이용하여 측정된 마이크로웨이브 신호중 최대 크기를 갖는 주파수값으로부터 내부 온도를 추정하는 최대 크기의 주파수를 이용한 마이크로웨이브 기반 내부 온도 측정 방법 및 장치에 관한 것으로서, 내부에 열원이 존재하는 매질에서 방사되는 마이크로웨이브 신호를 검출하여, 잡음을 제거한 후, 고속 푸리에 변환을 수행하여 최대의 크기를 갖는 주파수 성분을 검출하고, 빈의 변위 법칙을 적용하여 상기 검출된 최대 크기를 갖는 주파수 성분으로부터 상기 열원의 절대 온도를 산출하는 것이다.
내부에 열원이 존재하는 매질에서 방사되는 마이크로웨이브 신호를 검출하는 단계;상기 검출된 마이크로웨이브 신호에서 잡음을 제거하는 단계;상기 잡음을 제거한 마이크로웨이브 신호에 대한 고속 푸리에 변환을 수행하는 단계;상기 고속 푸리에 변환 결과로부터 최대의 크기를 갖는 주파수 성분을 검출하는 단계; 및빈의 변위 법칙을 적용하여 상기 검출된 최대 크기를 갖는 주파수 성분으로부터 상기 열원의 절대 온도를 산출하는 단계;를 포함하는 최대 크기의 주파수를 이용한 마이크로웨이브 기반 내부 온도 측정 방법.
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