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연합인증

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화학적 기계적 연마 용도로 사용되기 위한 초고순도의 콜로이드 실리카 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • C09K-003/14
  • H01L-021/304
출원번호 10-2010-7016750 (2010-07-26)
공개번호 10-2010-0093620 (2010-08-25)
등록번호 10-1214060-0000 (2012-12-13)
국제출원번호 PCT/US2006/037065 (2006-09-22)
국제공개번호 WO2007038321 (2007-04-05)
번역문제출일자 2010-07-26
DOI http://doi.org/10.8080/1020107016750
발명자 / 주소
  • 마후리카 디팩 / 미국 씨티 ***** 매디슨 마트레샴헤쓰 레인 **
  • 왕 유후 / 미국 씨에이 ***** 산타 로사 아파트먼트 *** 퀵 드라이브 ****
  • 델브릿지 켄 에이. / 미국 에이제트 ***** 챈들러 엔. 아리조나 에비뉴 #*** ****
  • 모예츠 커트 알. 엠. / 미국 에이제트 ***** 포닉스 에스. **엔디 스트리트 *****
  • 모세니 사이드 에이치. / 미국 오에이치 ***** 실베니아 화이트 이글 이스트 ****
  • 쿤츠 니콜 알. / 미국 에이제트 ***** 메사 에스. 웨슬리 드라이브 ****
  • 휴 빈 / 미국 에이제트 ***** 챈들러 웨스트 툴사 스트리트 ****
  • 웬 리큉 / 미국 에이제트 ***** 메사 이. 잭싱턴 에비뉴 ****
출원인 / 주소
  • 플레이너 솔루션즈 엘엘씨 / 미국 미시간주 ***** 아드레인 서턴 로드 ****
대리인 / 주소
  • 정홍식
심사청구여부 있음 (2011-03-08)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

포타슘 및 소듐을 제외하고 각 미량 금속 불순물이 200 ppb 미만이고, 2ppm 미만의 잔류 알콜을 갖고, 포타슘 및 소듐을 제외한 누적 미량 금속 농도가 약 0.5 내지 약 5ppm 범위인 복수의 콜로이드 실리카 입자; 및 입자를 분산시키기 위한 매질을 포함하는 조성물과 기재를 접촉시키는 단계를 포함하는 기재 표면의 화학적 기계적 연마 방법으로서, 상기 조성물이 초고순도 콜로이드 실리카 분산물이고, 상기 접촉 단계는 기재를 평탄화하기에 충분한 온도에서 기재를 평탄화하기에 충분한 시간 동안 수행되는 방법.

대표청구항

(i) Li, Rb, Cs, Fr, Fe 및 Al로 구성된 그룹 중에서 선택되는 하나 이상의 미량 금속 불순물을 각각 5ppb 내지 200ppb의 범위 내로 포함하고, 2ppm 미만의 잔류 알콜을 포함하며, 상기 미량 금속 불순물의 축적 농도가 0.5 내지 5ppm 범위인 복수의 콜로이드 실리카 입자; 및 (ii) 상기 입자를 현탁시키기 위한 매질;을 포함하는 조성물과 기판을 접촉시키는 단계를 포함하는 기재 표면의 화학적 기계적 연마 방법으로서, 상기 조성물이 초고순도 콜로이드 실리카 분산물이고, 상기 접촉 단계는 상기 기재를 평탄

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. [미국] Polishing composition | Ohno, Koji, Horikawa, Chiyo, Sakai, Kenji, Ina, Katsuyoshi
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